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| 涂層測厚儀H18740 1100/2100/3100/4100 |
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德EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測厚儀點：
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機，各自具有不同的數據處理能；
所有型號均可配所有探頭；
可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機；
可使用片或二片標準箔校準。
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MiniTest涂層測厚儀能
| 型號 |
1100
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2100
|
3100
|
4100
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| MINITEST 存儲的數據量 |
| 應用行數(根據不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數據數) |
1
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1
|
10
|
99
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| 每個應用行下的組(BATCH)數(對組內數據自動統計，并可設寬容度限值) |
-
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1
|
10
|
99
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| 可用各自的日期和時間標識性的組數 |
-
|
1
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500
|
500
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| 數據總量 |
1
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10000
|
10000
|
10000
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| MINITEST統計計算能 |
| 讀數的六種統計值x,s,n,max,min,kvar |
-
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√
|
√
|
√
|
| 讀數的八種統計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk |
-
|
-
|
√
|
√
|
| 組統計值六種x,s,n,max,min,kvar |
-
|
-
|
√
|
√
|
| 組統計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk |
-
|
-
|
√
|
√
|
| 存儲顯示每個應用行下的所有組內數據 |
-
|
-
|
-
|
√
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| 分組打印以上顯示和存儲的數據和統計值 |
-
|
-
|
√
|
√
|
| 顯示并打印測量值、打印的日期和時間 |
-
|
√
|
√
|
√
|
| 其他能 |
| 透過涂層行校準(CTC) |
-
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√
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| 在粗糙表面上作平均零校準 |
√
|
√
|
√
|
√
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| 利用計算機行基礎校準 |
√
|
√
|
√
|
√
|
| 補償個常數(Offset) |
-
|
-
|
√
|
√
|
| 外設的讀值傳輸存儲能 |
-
|
√
|
√
|
√
|
| 保護并鎖定校準設置 |
√
|
√
|
√
|
√
|
| 更換電池是存儲數值 |
√
|
√
|
√
|
√
|
| 設置限值 |
-
|
-
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| 公英制轉換 |
√
|
√
|
√
|
√
|
| 連續測量模式快速測量，通過模擬柱識別**小值 |
-
|
-
|
|
|
| 連續測量模式中測量穩定后顯示讀數 |
-
|
-
|
|
|
| 浮點和定點方式數據傳送 |
√
|
√
|
√
|
√
|
| 組內單值延遲顯示 |
-
|
√
|
√
|
√
|
| 連續測量模式中顯示*小值 |
√
|
√
|
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MiniTest涂層測厚儀可選探頭參數(探頭圖示)
所有探頭都可配合主機使用。在選擇*適用的探頭時需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭：測量有色金屬基體上的緣覆層
FN兩用探頭：同時具備F型和N性探頭的能
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探頭
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量程
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低端
分辨率
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誤差
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*小曲率
半徑(凸/凹)
|
*小測量
區域直徑
|
*小基
體厚度
|
探頭尺寸
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|
磁
感
應
法
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F05
|
0-500μm
|
0.1μm
|
±(1%±0.7μm)
|
1/5mm
|
3mm
|
0.2mm
|
φ15x62mm
|
|
F1.6
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
1.5/10mm
|
5mm
|
0.5mm
|
φ15x62mm
|
|
F1.6/90
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
平面/6mm
|
5mm
|
0.5mm
|
φ8x8x170mm
|
|
F3
|
0-3000μm
|
0.2μm
|
±(1%±1μm)
|
1.5/10mm
|
5mm
|
0.5mm
|
φ15x62mm
|
|
F10
|
0-10mm
|
5μm
|
±(1%±10μm)
|
5/16mm
|
20mm
|
1mm
|
φ25x46mm
|
|
F20
|
0-20mm
|
10μm
|
±(1%±10μm)
|
10/30mm
|
40mm
|
2mm
|
φ40x66mm
|
|
F50
|
0-50mm
|
10μm
|
±(3%±50μm)
|
50/200mm
|
300mm
|
2mm
|
φ45x70mm
|
|
兩
用
|
FN1.6
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
1.5/10mm
|
5mm
|
F0.5mm
N50μm
|
φ15x62mm
|
|
FN1.6P
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
平面
|
30mm
|
F0.5mm
N50μm
|
φ21x89mm
|
|
FN2
|
0-2000μm
|
0.2μm
|
±(1%±1μm)
|
1.5/10mm
|
5mm
|
F0.5mm
N50μm
|
φ15x62mm
|
|
電
渦
流
法
|
N02
|
0-200μm
|
0.1μm
|
±(1%±0.5μm)
|
1/10mm
|
2mm
|
50μm
|
φ16x70mm
|
|
N.08Cr
|
0-80μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
2.5mm
|
2mm
|
100μm
|
φ15x62mm
|
|
N1.6
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
1.5/10mm
|
2mm
|
50μm
|
φ15x62mm
|
|
N1.6/90
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
平面/10mm
|
5mm
|
50μm
|
φ13x13x170mm
|
|
N10
|
0-10mm
|
10μm
|
±(1%±25μm)
|
25/100mm
|
50mm
|
50μm
|
φ60x50mm
|
|
N20
|
0-20mm
|
10μm
|
±(1%±50μm)
|
25/100mm
|
70mm
|
50μm
|
φ65x75mm
|
|
N100
|
0-100mm
|
100μm
|
±(1%±0.3mm)
|
100mm/平面
|
200mm
|
50μm
|
φ126x155mm
|
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CN02
|
10-200μm
|
0.2μm
|
±(1%±1μm)
|
平面
|
7mm
|
無限制
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φ17x80mm
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| 注： |
F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內測量。
N.08Cr適合銅上鉻，FN2也適合銅上鉻。
CN02用于緣體上的有色金屬覆層。 |
MiniTest涂層測厚儀探頭圖示
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FN1.6
0～1600μm,φ5mm
兩用測頭，可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的緣覆層
量程低端分辨率很(0.1μm)
|
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FN1.6P
0～1600μm,φ30mm
兩用測頭， 別適合測粉末狀的覆層厚度
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F05
0～500μm,φ3mm
磁性測頭，適于測量細小鋼鐵物體的薄覆層，如金屬鍍層，氧化層等
量程低端分辨宰很(0.1μm)
|
 |
F1.6
0～1600μm,φ5mm
磁性測頭
量程低端分辨率很(0.1μm)
|
 |
F3
0～3000μm,φ5mm
磁性測頭
可用于較厚的覆層
|
 |
F1.6/90
0～1600μm,φ5mm
90度磁性測頭
尤其適合于在管內壁測量
量程低端分辨率很(0.1μm)
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 |
F10
0～10mm,φ20mm
適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等
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F20
0～20mm,φ40mm
適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等
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F50
0～50mm,φ300mm
適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層
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N02
0～200μm,φ2mm
非磁性測頭，尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的緣覆層
量程低端分辨率很(0.1μm)
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N0.8Cr
0～80μm,φ2mm
適用于測量銅、鋁、黃銅上的薄鍍鉻層
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N1.6
0～1600μm,φ2mm
非磁性測頭，適于測量有色金屬基體上的較薄的緣覆層
量程低端分辨率很(0.1μm)
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N1.6/90
0～1600μm,φ5mm
磁性測頭，適于測量較薄的緣覆層
尤其適合在管內壁測量
量程低端分辨率很(0.1μm)
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N10
0～10mm,φ50mm
非磁性測頭，適于測量較厚的緣覆層，如橡膠玻璃等
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N20
0～20mm,φ70mm
非磁性測頭，適于測量較厚的緣覆層，如橡膠玻璃等
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N100
0～100mm,200mm
非磁性測頭，適于測量較厚的緣覆層，如橡膠玻璃等
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CN02
10～200μm,φ7mm
用于測量緣材料上的有色金屬覆層，如覆銅板 |
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